伝統的なP型から高度なN型技術への急速な移行に伴い,モジュール構造と電気特性も大きく変化しました.HJTとBCモジュールはユニークな内部容量とバックコンタクト構造を持っています標準的なIV試験機器に新たな課題をもたらします.多くの通常の試験機はN型モジュール試験論理に適応できず,IV曲線が歪みます.不安定な充填因数データと不一致な電源グレード高効率のモジュール品質検査の標準を満たすことはできません.
ヨハ・ソーラーズ IV テスト
従来のP型モジュールとは異なり,N型高効率製品は,サンプル採取戦略と反干渉能力の試験に厳格な要件があります.高容量HJTモジュールは十分な電荷放出のためにマッチングパルス持続を必要とする標準的な機器の固定試験モードは,マルチテクニックモジュール生産に適応できない.製造者が複数の試験装置を構成し,生産と保守コストを増加させる. #PVMモジュール互換性
PVセル技術の再現的なアップグレードに合わせたヨハソーラーIV テスト機主流モジュール試験シナリオの完全なカバーを達成し,P型,TOPCon,HJTおよびBCモジュールと完全に互換性があります.すべてのパフォーマンス設計はIEC 60904-9に準拠しています:2020年の国際基準伝統的な機器のシングルシナリオテストの互換性痛みを解決し,1つのデバイスの多目的検出を実現します.
この装置は,スキャニング速度とサンプリング戦略の柔軟な調整をサポートし,様々なN型モジュールの電気特性差に対応します.それはバックコンタクトモジュールのためのプロの反干渉構造設計を採用300~1200nmの完全なスペクトル範囲の Aレベル標準太陽光シミュレーターで装備されています高効率モジュールの様々な試験要求に対応するために,700~1200W/m2の調整可能な照射量をサポートします..
このマルチ互換性のあるIVテストは,複数のモジュールタイプの混合生産を行う PVメーカーにとって,繰り返し設備投資を避けます.長期にわたるバッチ検出で安定した産業試験精度を維持異なる技術モジュールの電気性能データの一貫性と信頼性を確保し,生産ラインの構成を効果的に簡素化し,検査の多様性を向上させます.高級型太陽光発電製品のアップグレードと再利用のための信頼性の高い標準化テストソリューションを提供します.